斯派超的這種分析系統(tǒng)，將機器故障的根本原因分析是通過將兩步分析過程結(jié)合改進在一起實現(xiàn)的，其包括:壓差技術(shù)與 XRF技術(shù)。這個相對快速的系統(tǒng)可以篩選具有高顆粒計數(shù)的樣品，并對所得樣品過濾器進行完整的13元素XRF分析。

        改進的孔阻塞技術(shù)被稱為“壓差法顆粒計數(shù)法"或FPQ。FPQ具有約30,000個直徑為4um的孔的聚碳酸酯過濾器的注射器以恒定流速驅(qū)動3ml油液樣品。根據(jù)測量的相對于大氣壓的穿過濾膜的壓降，用于量化大于4um的每毫升高達百萬的顆粒的數(shù)量。相對于常規(guī)孔堵塞儀器，這一設(shè)備主要是通過改進濾膜設(shè)計來實現(xiàn)的。這種新的雙動態(tài)設(shè)計將測量范圍提高了顆粒飽和率以上(x50).

       分析完成后，過濾的油液從FPQ傳遞到XRF設(shè)備。由于存在顆粒交換現(xiàn)象，F(xiàn)PQ和XRF在校準(zhǔn)方面密切相關(guān)。FPQ和XRF儀器使用一系列的規(guī)則和校準(zhǔn)，以確保高達每毫升1百萬個顆粒的精確元素定量計數(shù)。這種技術(shù)與特殊過濾器相結(jié)合克服了XRF設(shè)備通常使用的油杯進行分析的問題。這種過濾器設(shè)計能夠?qū)㈩w粒輸送到過濾器的小區(qū)域中，使得聚焦的X射線束可以將其能量集中在那些顆粒上。該儀器使用40kev和15kev來量化13個元素，平均檢測限為一1ppm。